BSE-Modus - Materialkontrast mittels Rückstreuelektronen

Die Bildgebung im BSE-Modus gibt die mittlere Ordnungszahl des Materials wieder. Die folgenden Aufnahmen zeigen den Unterschied:

  • Links: SE-Aufnahme von Metallpartikel in Kohlenstoffmatrix
  • Rechts: BSE-Aufnahme von Metallpartikeln in Kohlenstoffmatrix

Unterschied zwischen Topographiekontrast (links) und Materialkontrast (rechts)

Beim Auftreffen von schnellen Elektronen auf Ihr Probenmaterial finden zahlreiche Wechselwirkungen statt. Eine davon ist die Ablenkung und Abbremsung der auftreffenden (Primär-)Elektronen. Die Primärelektronen werden durch das REM generiert und gebündelt auf Ihr Probenmaterial geschossen.

Treffen die Primärelektronen auf leichte Elemente, werden die Elektronen nur schwach abgelenkt und abgebremst. Zum Detektor gelangen dadurch nur wenige Rückstreuelektronen. Schwere Elemente in Ihrer Probe lenken und bremsen die Primärelektronen deutlich ab, wodurch mehr Rückstreuelektronen zum Detektor gelangen. Bereiche mit leichten Elementen erscheinen daher dunkel, Bereiche mit schweren Elementen erscheinen hell.

Wird der Elektronenstrahl über die Oberfläche gerastert, kann über die Anzahl der Rückstreuelektronen im Detektor ein Bild der Materialverteilung entstehen. Auch ohne REM-EDX kann man auf diese Weise Informationen zur Probe erhalten. Elementanalysen sind mit dem Materialkontrast nicht möglich, wohl aber qualitative Aussagen.

Mit unserem hauseigenen Labor für Elektronenmikroskopie sind wir Ihr Partner für Werkstoffanalysen und Materialprüfung im Raum Aachen, Mönchengladbach, Köln und Düsseldorf, aber auch bundes- und europaweit.

Unsere Dienstleistungen für Sie

Neben unseren Labordienstleistungen unterstützen wir Sie auch bei weiterführenden Fragen. Unter anderem mit den folgenden Dienstleistungen:

  • Fachliche Unterstützung bei Ihrem Schadensfall (weitere Informationen erhalten Sie hier)
  • Begutachtungen von Schadensfällen (im Rahmen eines Privatgutachten oder Gerichtsgutachten)
  • Kompetente Beratung bei Fragen zu Werkstoffen und Materialeinsätzen
  • Untersuchung von Werkstoffen im Rahmen von Metallografie und Mikroanalytik (u.a. Rasterelektronenmikroskopie)
  • Untersuchung von Bauteilfehlern, Fertigungsfehlern und Werkstoffversagen (z.B. durch Verschleiß, Korrosion, Oxidation)

Lexikon und Begriffserklärung

Begriffe der Elektronenmikroskopie:

Begriffe der Oberflächenanalytik und Oberflächentechnik:

Begriffe der Materialprüfung und Materialkennwerte:

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